Tenderwize
Back to tender search

Purchase of high-resolution X-ray diffractometer for CIMOP

Politechnika Wrocławska·Wrocław, Poland·Deadline Jul 28, 2026 · 20 days left·Open·Supplies
Original notice title

Poland – Diffraction apparatus – SZP/243-199/2026 Zakup wysokorozdzielczego dyfraktometru rentgenowskiego (XRD) dla Centrum Inżynierii Materiałowej oraz Obróbki Plastycznej.

0/100

Opportunity Score

High riskLow complexity
SuppliesOpen
Why this score?

Opportunity

0 / 100

Complexity

0 / 100

Deep Portfolio Analysis

Deep Company Fit Analysis

Uses:

  • Description
  • Industries & Services
  • Capabilities
  • Market & Experience
  • Certifications

Award Criteria

Lot 1

Przy wyborze najkorzystniejszej oferty Zamawiający będzie się kierował następującymi kryteriami i wagami wyrażonymi w procentach: a) Oferowana cena brutto za całość przedmiotu zamówienia („cena” – C) – wagaZamawiający dokona oceny ofert w kryterium „cena” w następujący sposób: Oferta z najniższą ceną otrzyma maksymalną liczbę punktów – 60 pkt, a punkty dla pozostałych ofert zostaną wyliczone według wzoru: C=(Cmin : Cn) x 60 gdzie: Cmin – najniższa cena ogółem brutto spośród ofert nieodrzuconych Cn – cena ogółem brutto ocenianej oferty 60 - współczynnik wynikający z przyjętej wagi za dane kryterium gdzie= 1 pkt. b) Parametry techniczne, na które składają się: Wartość punktowa kryterium przyznawana będzie wg tabeli poniżej: 1) Detektor – 10 pkt (punkt 8.2 OPZ) 8.2. Detektor: wydajność detekcji Liczba przyznanych punktów d) wydajność detekcji ≥ 3 × 10⁸ cps/mm². 0 pkt d) wydajność detekcji ≥ 6 × 10⁸ cps/mm². 10 pkt  Ocena zostanie dokonana na podstawie informacji złożonych w Ofercie.  Wykonawca w Załączniku nr 3 do SWZ OPZ wpisuje wartość zaoferowanego parametru. • W celu oceny ofert, w przypadku, gdy Wykonawca nie wskaże ww. parametru – Zamawiający przyjmie, że został zaoferowany parametr podstawowy. 2) Mikrodyfrakcja – 10 pkt (punkt 7.2 OPZ) Mikrodyfrakcja: wartość minimalnej średnicy wiązki (7.2). Liczba przyznanych punktów a) minimalna średnica wiązki ≤ 0,1 mm 0 pkt a) minimalna średnica wiązki ≤ 0,05 mm 10 pkt  Ocena zostanie dokonana na podstawie informacji złożonych w Ofercie.  Wykonawca w Załączniku nr 3 do SWZ OPZ wpisuje wartość zaoferowanego parametru.  W celu oceny ofert, w przypadku, gdy Wykonawca nie wskaże ww. parametru – Zamawiający przyjmie, że został zaoferowany parametr podstawowy. W przypadku zaoferowania wartości pośrednich, Zamawiający zaokrągli w górę do niższej wartości. 3) Stolik– 10 pkt (punkt 9.2 OPZ) Stolik do pomiarów naprężeń i tekstury (punkt 9.2) Liczba przyznanych punktów Stolik do pomiarów naprężeń i tekstury musi umożliwiać: zmotoryzowany ruch osi χ, (0-90°) 0 pkt Stolik do pomiarów naprężeń i tekstury musi umożliwiać: zmotoryzowany ruch osi χ, (-5°- 95°) 10 pkt  Ocena zostanie dokonana na podstawie informacji złożonych w Ofercie.  Wykonawca w Załączniku nr 3 do SWZ OPZ wpisuje wartość zaoferowanego parametru.  W celu oceny ofert, w przypadku, gdy Wykonawca nie wskaże ww. parametru – Zamawiający przyjmie, że został zaoferowany parametr podstawowy. W przypadku zaoferowania wartości pośrednich, Zamawiający zaokrągli w dół do niższej wartości. 4) Gwarancja fabryczna i serwis – 10 pkt (punkt 13.1. OPZ) Gwarancja fabryczna (punkt 13.1.) Liczba przyznanych punktów Gwarancja fabryczna wynosi minimum 24 miesiące 0 pkt Gwarancja fabryczna wynosi minimum 36 miesięcy 10 pkt  Ocena zostanie dokonana na podstawie informacji złożonych w Ofercie.  Wykonawca w Załączniku nr 3 do SWZ OPZ wpisuje wartość zaoferowanego parametru. • W celu oceny ofert, w przypadku, gdy Wykonawca nie wskaże ww. parametru – Zamawiający przyjmie, że został zaoferowany parametr podstawowy60%

Buyer

Name

Politechnika Wrocławska

Location

Wrocław, POL

Identifier

896-000-58-51

Activity

Education

Lots (1)

LOT-0001

SZP/243-199/2026 Zakup wysokorozdzielczego dyfraktometru rentgenowskiego (XRD) dla Centrum Inżynierii Materiałowej oraz Obróbki Plastycznej

1. Przedmiotem zamówienia jest zakup wysokorozdzielczego dyfraktometru rentgenowskiego (XRD) dla Centrum Inżynierii Materiałowej oraz Obróbki Plastycznej. 2. Kod CPV: 38530000-9 Aparatura dyfrakcyjna 3. Dostarczony przedmiot zamówienia musi być fabrycznie nowy, kompletny i sprawny technicznie. Przez stwierdzenie „fabrycznie nowy” należy rozumieć przedmiot zamówienia, nieużywany przed dniem dostarczenia, z wyłączeniem używania niezbędnego dla przeprowadzenia testu jego poprawnej pracy po wyprodukowaniu. Przedmiot zamówienia musi być wolny od wad fizycznych i prawnych oraz roszczeń osób trzecich. 4. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się w Załączniku nr 3 SWZ – OPZ. 5. Szczegółowy zakres wykonania przedmiotu zamówienia, będący projektowanymi postanowieniami umowy w sprawie zamówienia publicznego, znajduje się we wzorze umowy, stanowiącym Załączniki nr 2 do SWZ. 6. Wykonawca jest zobowiązany zawrzeć w ofercie wszystkie niezbędne urządzenia, sterowniki sprzętowe i programowe, osprzęt eksploatacyjny oraz instalacje oraz oprogramowanie do realizacji założeń funkcjonalnych przedmiotu zamówienia. 7. Zamawiający nie przewiduje prawa opcji.

SuppliesEU fundedElectronic submissionSME suitable

Location

Wrocław, Poland

Duration

6 MONTH

Category

Diffraction apparatus

Selection criteria

Price

Procurement Details

Publication date
28 Jun 2026
Notice type
Contract notice — standard
Languages
Polish

Reference metadata

Notice subtype
16
Notice version
1
Legal basis
32014L0024

Reference IDs

Tender ID
442010-2026

Documents (1)

Similar tenders