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Dual-beam FIB-SEM system for CICECO Materials Institute

Universidade de Aveiro·Aveiro, Portugal·EUR 600k·Deadline Jun 28, 2026 · 4 days left·Open·Supplies
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Original notice title

Portugal – Scanning electron microscopes – Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

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Submission deadline in 4 days

Deep Portfolio Analysis

Deep Company Fit Analysis

Uses:

  • Description
  • Industries & Services
  • Capabilities
  • Market & Experience
  • Certifications

Award Criteria

Lot 1

Preço — 60%

Buyer

Name

Universidade de Aveiro

Location

Aveiro, PRT

Website

www.ua.pt/

Identifier

501461108

Lots (1)

LOT-0000

Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

SuppliesEU fundedElectronic submissionSME suitable

EUR 600k

Estimated value

Location

União das Freguesias de Glória e Vera Cruz, Portugal

Duration

180 DAY

Category

Scanning electron microscopes

Selection criteria

Price

Procurement Details

Publication date
21 Jun 2026
Notice type
Contract notice — standard
Languages
Portuguese

Reference metadata

Notice subtype
16
Notice version
3
Legal basis
32014L0024

Reference IDs

Tender ID
425114-2026

Documents (2)

Procurement document 1Submission portal 1

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